按鍵壽命試驗機監(jiān)管以及市場運行進入新階段
按鍵壽命試驗機可對手機、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等做壽命測試,按鍵壽命試驗機適用于檢測按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進行壽命試驗。按鍵壽命試驗機具有速度可調(diào),次數(shù)任意設(shè)定,同時可測試數(shù)個產(chǎn)品(每個產(chǎn)品均可多點測試)。按鍵壽命試驗機可對手機、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等做壽命測試,按鍵壽命試驗機適用于檢測按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進行壽命試驗。按鍵壽命試驗機具有速度可調(diào),次數(shù)任意設(shè)定,按鍵壽命試驗機同時可測試數(shù)個產(chǎn)品(每個產(chǎn)品均可多點測試)。另每個按鍵可以設(shè)定不同壓力及不同高度。按鍵壽命試驗機同時采用每個測試頭分開控制,專用夾具設(shè)計,人性化操作,可滿足客戶不同測試需求。按鍵壽命試驗機適用于手機、電話機、車載器、PDA、藍牙/免提耳機、汽車遙控器、電視/電腦控制器、MP3/CD等小型消費電子產(chǎn)品按鍵作壽命測試。
按鍵壽命試驗機特點
●排序/同時打擊測試兩種模式可切換,按鍵壽命試驗機可真實模擬手機鍵盤真實使用狀況;
●采用日本SMC精密氣動元件,打擊力精準(zhǔn)可調(diào)(校力儀校準(zhǔn)),耐久使用;
●采用三菱液晶觸摸屏+PLC作程序控制,品質(zhì)可靠;
●可同時測試4組手機,不同治具上下、左右、前后可調(diào)滿足不同規(guī)格之產(chǎn)品實物按鍵測試;
●按鍵壽命試驗機滿足手機正面、側(cè)面按鍵同時測試要求,配以校力裝置,真實反映按鍵耐打擊能力;
按鍵壽命試驗機測試鍵數(shù):10個(可以擴充到128個)。
按鍵次數(shù):1—9999999次任意設(shè)定。
按鍵壓力:按鍵壓力大小可以任意調(diào)節(jié)。
按鍵方式:可以設(shè)定各種按鍵的方式、按鍵頻率、下壓延時、彈開延時、閉合時間、斷開時間、間斷性測試(間斷性測試方式可以避免因過度疲勞老化的原因造成的測試結(jié)果不準(zhǔn)確)、 自編程測試等等。
數(shù)據(jù)設(shè)定:可以設(shè)定任何一個按鍵的測試次數(shù)(1-9999999次)。
自動計數(shù):自動記錄按鍵的動作次數(shù)、閉合次數(shù)、斷開次數(shù)、接觸不良次數(shù)等等,自動統(tǒng)計所有按鍵的相關(guān)數(shù)據(jù),自動對批量按鍵的測試數(shù)據(jù)進行分類保存。
智能分析:自動對測試過程中所記錄的所有數(shù)據(jù)進行分析,自動計算被測按鍵的可靠閉合率和閉合后的可靠彈開率,自動分析多個按鍵同時檢測時的測試數(shù)據(jù),批量數(shù)據(jù)處理,實時動態(tài)動態(tài)報告當(dāng)前測試結(jié)果。
電阻監(jiān)控:實時監(jiān)控連接按鍵的線路電阻阻值。
批量處理:壽命測試一般都屬于抽檢測測試,按鍵壽命試驗機采用隨機取樣、批量處理的檢測方式和批量數(shù)據(jù)分析可以得到更準(zhǔn)確和更具參考價值的測試結(jié)果,使測試數(shù)據(jù)更具代表性。
按鍵壽命試驗機用于汽車鎖按鍵、車門鎖開關(guān)、中控臺按鈕等各類汽車開關(guān)鈕壽命測試。按鍵壽命試驗機是將產(chǎn)品分別置于對應(yīng)工位的試驗位置上,按鍵壽命試驗機按鍵測試桿在一定的試驗荷重、速度、行程、次數(shù)下模擬人對產(chǎn)品的使用壽命測試。按鍵壽命試驗機適用于手機、PDA、電話機、電腦鍵盤、電子字典之按鍵及鍋仔片、麥拉片、微型開關(guān)等按鈕、開關(guān)之耐久壽命試驗。按鍵壽命試驗機可同時工作、單獨工作、測試數(shù)個產(chǎn)品(每個產(chǎn)品均可多點測試),按鍵可以選擇不同荷重。
按鍵壽命試驗機用于測試各種按鍵、開關(guān)以及電腦鍵盤、觸控面板、薄膜開關(guān)等產(chǎn)品的使用壽命,按鍵壽命試驗機通過電腦進行程控測試,可以對10個按鍵進行測試和智能分析,在線監(jiān)控并實時檢測按鍵開關(guān)短路、斷線、接觸不良、閉合不良、彈開不良的各種不良狀況、自動計算合格率、可靠閉合率、彈開率、按壓次數(shù)、接通次數(shù)、斷開次數(shù)等等各種參數(shù),按鍵壽命試驗機可以對任何一個按鍵進行單獨設(shè)定,也可以同時對10個以內(nèi)的被測按鍵進行各種數(shù)據(jù)統(tǒng)計和分析,自動保存測試結(jié)果,自動生成測試曲線圖譜。